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KelvinFor2D
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Développement du mode "Single Pass Kelvin Probe Force Microscopy"  pour la caractérisation locale de matériaux bidimensionnels par microscopie AFM

Acronyme

Année

Laboratoire

Collaboration(s)

Budget

Durée

KelvinFor2D

2018

GeePs

NIMBE

32,5 k€

18 mois

 

 

Titre

Développement du mode: "Single Pass Kelvin Probe Force Microscopy"  pour la caractérisation locale de matériaux bidimensionnels par microscopie AFM

Porteur

David Brunel

Date de démarrage

Septembre 2018

Présentation du projet

Le projet KelvinFor2D a pour objectif de doter la plateforme de caractérisation en champ proche du GeePs d'une nouvelle technique de mesures locales et quantitatives, complémentaire du Résiscope et capable de cartographier les propriétés électriques de nano-dispositifs en fonctionnement avec une résolution inférieure à 10 nm. Cette technique dite de Single-Pass Kelvin Probe Force Microscopy sera développée et validée en s'appuyant sur un premier exemple pertinent: des transistors double-grille à base de MoS2 monocouche étudiés au LICSEN. Ce choix permet d'adresser un verrou identifié du domaine: le rôle sur le transport des aspects locaux (défauts, bords…) non révélés par les mesures électriques conventionnelles. La technique sera ensuite mise à la disposition de la communauté NanoSaclay au travers de nouvelles collaborations avec le GeePs.

 

Maj : 03/04/2018 (178)

 

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